X-ışını floresans (XRF) spektrometrisi, numune yüzeyine gönderilen X-ışınlarıyla uyarılan atomların yaydığı karakteristik ışımayı ölçerek titanyum ve titanyum alaşımlarının kimyasal bileşimini belirler. Ölçüm, sertifikalı referans malzemelerle kalibre edilmiş cihazda yapılır. Saf titanyum sınıfları ile Ti-6Al-4V (Grade 5) gibi alaşımlarda sınıf doğrulaması ve sertifika kontrolü için kullanılır.
Analiz Edilen Başlıca Elementler
- Al, V, Fe, Mo, Cr
- Sn, Zr, Nb, Ni, Cu, Pd
- Element listesi alaşıma ve ilgili standarda göre belirlenir
Uygulanan Standart
- ASTM E539 – Titanyum alaşımlarının X-ışını floresans spektrometrisi ile analizi
Numune
Analiz yüzeyi düz olmalıdır; numuneler laboratuvarımızda kesilir ve analiz yüzeyi zımparalanarak hazırlanır. Sonuçlar ağırlıkça yüzde (%) olarak raporlanır; talep edilirse malzeme standardındaki veya sertifikadaki sınırlarla karşılaştırılır.