X-ışını floresans (XRF) spektrometrisi, numune yüzeyine gönderilen X-ışınlarıyla uyarılan atomların yaydığı karakteristik ışımayı ölçerek karbon ve düşük alaşımlı çeliklerin kimyasal bileşimini belirler. Ölçüm, sertifikalı referans malzemelerle kalibre edilmiş cihazda yapılır. Alaşım elementlerinin doğrulanmasında ve kalite sınıfı kontrolünde kullanılır.
Analiz Edilen Başlıca Elementler
- Mn, Si, Cr, Ni, Mo, Cu
- V, Nb, Ti, Co, W, P, S
- Element listesi malzemeye ve ilgili standarda göre belirlenir
Not: XRF ile karbon tayin edilemez; karbon değeri gerekiyorsa analiz kıvılcım spektrometresiyle yapılır.
Uygulanan Standart
- ASTM E1085 – Düşük alaşımlı çeliklerin dalga boyu dağılımlı X-ışını floresans spektrometrisi ile analizi
Numune
Analiz yüzeyi düz olmalıdır; numuneler laboratuvarımızda kesilir ve analiz yüzeyi zımparalanarak hazırlanır. Sonuçlar ağırlıkça yüzde (%) olarak raporlanır; talep edilirse malzeme standardındaki veya sertifikadaki sınırlarla karşılaştırılır.