X-ışını floresans (XRF) spektrometrisi, numune yüzeyine gönderilen X-ışınlarıyla uyarılan atomların yaydığı karakteristik ışımayı ölçerek paslanmaz ve alaşımlı çeliklerin kimyasal bileşimini belirler. Ölçüm, sertifikalı referans malzemelerle kalibre edilmiş cihazda yapılır. 304, 316, 321, 310 ve dubleks gibi kalitelerde sınıf doğrulaması ve sertifika kontrolü için kullanılır.
Analiz Edilen Başlıca Elementler
- Cr, Ni, Mo, Mn, Si, Cu
- Ti, Nb, Co, V, W, P, S
- Element listesi malzemeye ve ilgili standarda göre belirlenir
Uygulanan Standart
- ASTM E572 – Paslanmaz ve alaşımlı çeliklerin dalga boyu dağılımlı X-ışını floresans spektrometrisi ile analizi
Numune
Analiz yüzeyi düz olmalıdır; numuneler laboratuvarımızda kesilir ve analiz yüzeyi zımparalanarak hazırlanır. Sonuçlar ağırlıkça yüzde (%) olarak raporlanır; talep edilirse malzeme standardındaki veya sertifikadaki sınırlarla karşılaştırılır.