X-ışını floresans (XRF) spektrometrisi, numune yüzeyine gönderilen X-ışınlarıyla uyarılan atomların yaydığı karakteristik ışımayı ölçerek nikel esaslı alaşımların kimyasal bileşimini belirler. Ölçüm, sertifikalı referans malzemelerle kalibre edilmiş cihazda yapılır. Inconel, Incoloy, Hastelloy ve Monel gibi alaşımlarda sınıf doğrulaması ve malzeme sertifikası kontrolü için kullanılır.
Analiz Edilen Başlıca Elementler
- Ni, Cr, Fe, Mo, Co, Cu
- Nb, Ti, Al, W, Mn, Si
- Element listesi alaşıma ve ilgili standarda göre belirlenir
Uygulanan Standart
- ASTM E2465 – Nikel esaslı alaşımların dalga boyu dağılımlı X-ışını floresans spektrometrisi ile analizi
Numune
Analiz yüzeyi düz olmalıdır; numuneler laboratuvarımızda kesilir ve analiz yüzeyi zımparalanarak hazırlanır. Sonuçlar ağırlıkça yüzde (%) olarak raporlanır; talep edilirse malzeme standardındaki veya sertifikadaki sınırlarla karşılaştırılır.